N-亞硝基去甲基西酞普蘭

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• 產品信息

• 產品編號：N031095

• 英文名：N-Nitroso Desmethyl Citalopram

• 英文別名：N-(3-(5 - 氰基 - 1-(4 - 氟苯基)-1,3 - 二氫異苯并呋喃 - 1 - 基) 丙基)-N - 甲基亞硝酰胺

• CAS 號：無

• 分子式：C??H??FN?O?

• 分子量：339.36

• 優(yōu)勢

• 作為去甲基西酞普蘭（Desmethyl Citalopram）的亞硝基雜質，該化合物具備以下優(yōu)勢：

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• 結構明確且官能團特征顯著：含異苯并呋喃環(huán)、5 - 氰基、1-(4 - 氟苯基)、3-(N - 甲基亞硝酰胺基) 丙基，與去甲基西酞普蘭的差異在于氨基被亞硝基化（西酞普蘭為選擇性 5 - 羥色胺再攝取抑制劑）。亞硝酰胺基（-N-NO）的強極性、氟原子的電負性與多環(huán)結構的疏水性形成顯著理化差異，可通過反相 HPLC、離子對色譜等技術精準區(qū)分，為雜質檢測提供特異性標志物；

• 穩(wěn)定性與溯源性強：異苯并呋喃環(huán)的剛性結構、氰基及亞硝酰胺基的化學穩(wěn)定性使其在避光、低溫條件下穩(wěn)定性較高，且作為去甲基西酞普蘭儲存或合成中胺基亞硝化產生的衍生物，能直接反映氨基穩(wěn)定性及儲存環(huán)境（如亞硝酸暴露）的影響，提升雜質溯源的準確性；

• 檢測靈敏度高：多環(huán)共軛體系的紫外強吸收（230-270nm）與亞硝酰胺基、氟原子的質譜響應（m/z 340 [M+H]?）結合，可通過 LC-MS 實現(xiàn)痕量分析（檢測限達 ppb 級），適配 SSRI 類藥物的亞硝基雜質檢測體系。

• 應用

• 藥物質量控制：在西酞普蘭原料藥及制劑生產中，作為雜質對照品鑒別和定量 N-Nitroso Desmethyl Citalopram，評估亞硝基雜質的殘留水平，確保符合藥品質量標準中對潛在遺傳毒性雜質的控制要求；

• 穩(wěn)定性研究：通過監(jiān)測該雜質的含量變化，評估西酞普蘭及去甲基西酞普蘭在不同儲存條件（如 pH、光照、濕度）下的降解趨勢，避免亞硝化反應加劇，保障藥品有效期內的質量；

• 合成工藝評估：用于評估西酞普蘭合成中去甲基中間體的純度，減少胺基與亞硝酸的接觸機會，從源頭控制亞硝基雜質的生成風險。

• 背景描述

• 去甲基西酞普蘭是西酞普蘭的主要代謝產物，結構中含 N - 甲基氨基，在生產或儲存過程中若接觸亞硝酸（如環(huán)境中的硝酸鹽還原產物），可能發(fā)生胺基亞硝化反應，生成含 N - 甲基亞硝酰胺基的衍生物，即 N-Nitroso Desmethyl Citalopram。亞硝基雜質因潛在遺傳毒性，被列為需嚴格控制的特定雜質，其殘留可能影響西酞普蘭的用藥安全性，因此對其檢測和控制是質量保障的關鍵環(huán)節(jié)。

• 研究現(xiàn)狀

• 當前研究聚焦于：

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• 檢測方法優(yōu)化：開發(fā)超高效液相色譜 - 串聯(lián)質譜（UPLC-MS/MS）方法，采用 C18 色譜柱與梯度洗脫（乙腈 - 0.1% 甲酸水體系），實現(xiàn)該雜質與西酞普蘭、去甲基西酞普蘭及其他亞硝基類似物的基線分離，檢測限低至 0.01 ppb；

• 亞硝化機制解析：通過模擬不同亞硝酸濃度、反應溫度及 pH，研究該雜質的生成動力學，闡明 N - 甲基氨基向亞硝酰胺基轉化的反應路徑；

• 控制策略研究：探索添加亞硝化抑制劑（如抗壞血酸）抑制雜質生成，將其含量控制在安全限度（通常 < 0.001%）以下；

• 毒性評估：通過體外遺傳毒性試驗（如 Ames 試驗）驗證該雜質的潛在致突變性，為限度標準制定提供毒理學依據。

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